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飛行時間二次離子質(zhì)譜儀
- 品牌：英國Kore
- 型號： TOF-SIMS
- 產(chǎn)地：歐洲 英國
- 供應(yīng)商報價：面議
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科睿設(shè)備有限公司
更新時間：2025-03-18 15:31:17 -
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品半導(dǎo)體材料測試設(shè)備(5件)
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詳細(xì)介紹
※ 廣泛應(yīng)用于導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體等領(lǐng)域。
※ 用于納米級表面成分定性或定量分析，實(shí)現(xiàn)二次離子圖像 與二次電子圖像分析。配置離子刻蝕槍，可進(jìn)行材料深度 分布分析。
※ 并行探測所有離子，包括有機(jī)和無機(jī)分析碎片。
※ 寬范圍的質(zhì)量探測范圍（實(shí)際測量中>1000m/z原子 量）。
※ 極高的空間分辨率。 ※ 超高靈敏度1E+9 atoms/cm 。
※ 導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體表面均可測試。
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號