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理學 XRD Smart Lab SE 多功能X射線衍射儀

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詳細介紹

儀器介紹:

        全新智能X射線衍射儀SmartLab SE系列,是當今世界高性能的多功能的X射線衍射儀,它采用了理學的CBO交叉光學系統(tǒng)、自動識別所有光學組件、樣品臺、智能的測量分析軟件SmartLab Studio II,一臺儀器可以智能進行粉末測試、定量分析、晶粒尺寸、結(jié)晶度。

技術(shù)參數(shù):
1、X射線發(fā)生器功率為3KW
2、測角儀為水平測角儀
3、測角儀zui小步進為1/10000度,高精度測角儀(雙光學編碼、直接軸上定位)
4、測角儀配程序式可變狹縫
5、自動識別所有光學組件、樣品臺
6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路(帶Mirror)
7、小角散射測試組件(SAXS)
8、多用途薄膜測試組件
9、高速一維探測器
10、二維探測器,可以在零維、一維或二維模式間無縫切換
11、全新的SmartLab Studio II 提供了模塊化的衍射功能組件

12、自對準光學器件可延長儀器正常運行時間并降低購置成本


主要特點:
          智能多功能X射線衍射儀SmartLab SE ,可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個領(lǐng)域。
  可以分析的材料包括:金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料
  可以分析的材料狀態(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品


主要的應(yīng)用有:

   1. 粉末樣品的物相定性與定量分析
   2. 計算結(jié)晶化度、晶粒大小
   3. 確定晶系、晶粒大小與畸變
   4. Rietveld定量分析
   5. 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度
   6. 小角散射與納米材料粒徑分布
   7. 微區(qū)樣品的分析


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