全新 M6 — — 飛行時間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）先進(jìn)科技

       M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基礎(chǔ)上開發(fā)的新一代高端飛行時間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）儀器，對一次離子源（LMIG）和質(zhì)量分析器（TOF Analyser）進(jìn)行了突破性的改進(jìn)。

       此外，在硬件方面還增加了 MS/MS 功能選項，重新設(shè)計了加熱和冷卻系統(tǒng)；在軟件方面新增了多元統(tǒng)計分析（MVSA）軟件包。其設(shè)計保證了 SIMS 應(yīng)用在所有領(lǐng)域的高端性能。

       新的突破性離子束和質(zhì)量分析器技術(shù)使 M6 成為二次離子質(zhì)譜（SIMS）儀器中的耀眼光芒、工業(yè)和學(xué)術(shù)研究的理想工具。

全新 M6 具有以下突出優(yōu)勢：

• 1      新型 Nanoprobe 50 具有高橫向分辨率 (< 50 nm)

• 2      質(zhì)量分辨率 > 30,000

• 3      獨(dú)特的延遲提取模式可同時實現(xiàn)高傳輸，高橫向質(zhì)量

• 4      廣域的動態(tài)范圍和檢測限

• 5      用于闡明分子結(jié)構(gòu)具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS

• 6      先進(jìn)智能的 SurfaceLab 7 軟件，包括完全集成的多元統(tǒng)計分析 (MVSA) 軟件包

• 7      新型靈活按鈕式閉環(huán)樣品加熱和冷卻系統(tǒng)，可長期無人值守運(yùn)行

有關(guān)TOFSIMS的更多資料，請移步我司官網(wǎng)：http://www.iontof.com.cn/bk_22421317.html