U-III表面粒子計(jì)數(shù)器在半導(dǎo)體方面的應(yīng)用
U-III表面粒子計(jì)數(shù)器實(shí)驗(yàn)操作指南
?(基于UK MICRON OPTOELECTRONICS設(shè)備規(guī)范與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn))?
?【概述】?
U-III表面粒子計(jì)數(shù)器是一款專用于電子半導(dǎo)體、精密光學(xué)等領(lǐng)域的高靈敏度檢測設(shè)備,通過?激光散射技術(shù)?和?智能再懸浮系統(tǒng)?,可量化分析0.1-10.0μm表面顆粒的濃度與粒徑分布,為潔凈度控制提供標(biāo)準(zhǔn)化依據(jù)。
?【實(shí)驗(yàn)/設(shè)備條件】?
?環(huán)境要求?
潔凈度等級:符合?ISO 14644-1 Class 5?及以上(百級潔凈環(huán)境)。
溫濕度控制:溫度20-25℃,濕度40-60%?7。
?設(shè)備配置?
高精度激光傳感器(波長635nm,分辨率0.1μm)?。
靜態(tài)采樣模式(減少氣流干擾)?。
7英寸觸控屏(實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)顯示與操作)?。
?【樣品提取】?
?表面顆粒再懸浮?
使用?微型氣流噴射模塊?,通過設(shè)定流量(2-5L/min)將附著顆粒均勻懸浮至檢測區(qū)。
采樣面積:標(biāo)準(zhǔn)模式覆蓋5cm2(可擴(kuò)展至20cm2)?。
?液滴法輔助檢測(可選)?
針對液體表面污染,采用?微型流控通道?生成液滴(20-100μL),通過光散射分析顆粒分布。
?【實(shí)驗(yàn)/操作方法】?
?設(shè)備啟動?
開啟電源預(yù)熱10分鐘(確保激光傳感器穩(wěn)定性)?。
校準(zhǔn)粒徑通道(默認(rèn)0.3/0.5/1.0/3.0/5.0/10.0μm)。
?采樣與檢測?
選擇?靜態(tài)采樣模式?,設(shè)置采樣時(shí)間(1-10分鐘)。
啟動氣流噴射,實(shí)時(shí)監(jiān)測顆粒濃度(#/m3)及粒徑分布。
?數(shù)據(jù)記錄?
導(dǎo)出格式:支持CSV、PDF(含時(shí)間戳與檢測參數(shù))。
超標(biāo)報(bào)警:自動標(biāo)記濃度超限區(qū)域(如0.3μm顆粒>1000#/m3)?。
?【實(shí)驗(yàn)結(jié)果/結(jié)論】?
?關(guān)鍵參數(shù)?
顆粒濃度:以每立方米(#/m3)或每平方厘米(#/cm2)為單位統(tǒng)計(jì)?。
粒徑分布:六通道分類占比(例如0.3μm顆粒占比>70%需觸發(fā)清潔程序)。
?結(jié)論分析?
潔凈度評級:對比?ISO 14644-9?標(biāo)準(zhǔn),判定區(qū)域是否符合工藝要求?。
污染溯源:結(jié)合顆粒濃度峰值與設(shè)備運(yùn)行狀態(tài),定位污染源(如設(shè)備磨損、人員操作)?。
?【儀器/耗材清單】?
類別 | 名稱/型號 | 功能說明 | 來源引用 |
?核心設(shè)備? | U-III表面粒子計(jì)數(shù)器主機(jī) | 顆粒檢測與數(shù)據(jù)分析 | ?12 |
?傳感器? | HeNe激光模塊(635nm) | 0.1μm級顆粒信號捕獲 | ?24 |
?采樣配件? | 微型氣流噴嘴(可拆卸) | 表面顆粒再懸浮 | ?15 |
?耗材? | 潔凈擦拭布(無塵棉材質(zhì)) | 設(shè)備表面清潔 | ?7 |
?校準(zhǔn)工具? | 聚苯乙烯標(biāo)準(zhǔn)顆粒(0.1-10μm) | 定期傳感器精度驗(yàn)證 | ?45 |
?注:? 實(shí)驗(yàn)操作需遵循廠商操作手冊及ISO標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范,定期進(jìn)行設(shè)備校準(zhǔn)(推薦周期≤6個月)?
標(biāo)簽:表面粒子計(jì)數(shù)器
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