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德國(guó)布魯克 背散射衍射儀 QUANTAX EBSD
- 品牌：布魯克AXS
- 型號(hào)： QUANTAX EBSD
- 產(chǎn)地：歐洲 德國(guó)
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià)：面議
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布魯克（北京）科技有限公司
更新時(shí)間：2025-02-11 15:28:52 -
銷(xiāo)售范圍售全國(guó)
入駐年限第10年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類(lèi)產(chǎn)品電子背散射衍射系統(tǒng)（EBSD）(4件)
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詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特點(diǎn)
同軸 TKD 具有無(wú)與倫比的性能
Z佳空間分辨率
低探頭電流要求詳細(xì)介紹
產(chǎn)品亮點(diǎn)：
1.5納米有效的空間分辨率獨(dú)特的同軸 TKD 提供最 佳的樣品-探測(cè)器幾何構(gòu)型，從而實(shí)現(xiàn)無(wú)與倫比的性能2nA
測(cè)試所需的 最 大電流同軸 TKD 可實(shí)現(xiàn)低探頭電流測(cè)試，且不影響測(cè)試速度和數(shù)據(jù)質(zhì)量125,000Pps
超快獲取 FSE、BSE 和 STEM 圖像無(wú)與倫比的ARGUS成像系統(tǒng)可在幾秒鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)高對(duì)比度和低噪聲成像具有無(wú)與倫比的空間分辨率的納米材料取向分布圖
QUANTAX EBSD 系統(tǒng)加上廣受歡迎的 OPTIMUS TKD 探測(cè)器，是分析 SEM 中納米材料的最 佳解決方案。原因如下：
提供 1.5 nm 的最 佳空間分辨率
在不影響速度和/或數(shù)據(jù)質(zhì)量的情況下以低測(cè)試電流進(jìn)行測(cè)試
在使用浸入式透鏡模式的超高分辨 SEM 下工作的唯 一 TKD 解決方案
全自動(dòng)內(nèi)置 ARGUS 成像系統(tǒng)
為什么我需要同軸 TKD？
Ge-Sb-Te (GST) 薄膜樣品的暗場(chǎng)像圖片，我們感謝斯坦福大學(xué)Aaron Lindenberg組提供的樣品和圖像結(jié)果
實(shí)現(xiàn)最 佳空間分辨率
SEM 中獲取取向分布圖和物相分布圖
用于快速測(cè)試，同時(shí)不影響數(shù)據(jù)質(zhì)量/完整性
以令人難以置信的速度，通過(guò)全自動(dòng)信號(hào)優(yōu)化，以出色的對(duì)比度和分辨率拍攝 STEM 圖像
可使用低電流分析束流敏感材料。
您的分析挑戰(zhàn)是什么？
礦物學(xué)樣品的高級(jí)物相識(shí)別
Microstructure characterisation of a microprocessor wire bonding with EBSD
鎳基超合金微觀結(jié)構(gòu)的 EBSD 表征
滬公網(wǎng)安備 31011502008050號(hào)