ADMS 角分辨光譜測量儀

FOMS角分辨光譜儀是一款可變角度的多功能光譜測量儀器,采用智能旋轉(zhuǎn)設(shè)計(jì)，自動(dòng)控制入射與采集角度，可快速實(shí)現(xiàn)透過/反射/熒光/散射/輻射等多種光譜測量。適用于光子晶體等納米材料的能帶缺陷特性研究、光學(xué)元件的不同角度的透反射測量、LED等發(fā)光器件的發(fā)光特性研究。

儀器特點(diǎn)：

◆ 全角度測量:發(fā)射端角度范圍0°至180° ,接收端角度范圍0°至360° ,可以實(shí)現(xiàn)反射、透射、散射、熒光和輻射的全角度光譜測量;

◆ 精確角度控制:高精度電機(jī),角度精度及重復(fù)性能優(yōu)異;

◆ 多光譜測量模式:可以實(shí)現(xiàn)上反射、下反射、透射、散射/熒光、輻射等多種光譜測量;

◆ 寬光譜范圍:內(nèi)置鹵素光源，可實(shí)現(xiàn)380~ 1700nm超寬波段光譜測量范圍;

◆ 可編程測量模式:可以通過編程設(shè)置不同的角度范圍和步進(jìn),來實(shí)現(xiàn)自動(dòng)多角度光譜測量，可批量測試;

◆ 擴(kuò)展性好:根據(jù)客戶的需求,可以選擇不同的光源、濾光片、偏振片等配件完成不同的光譜測量;

◆ 多維調(diào)節(jié)樣品臺:樣品臺由高精度三維位移臺和二維傾斜臺組成,可實(shí)現(xiàn)樣品的五維正交調(diào)節(jié)。

應(yīng)用領(lǐng)域：

光子晶體器件、材料鍍膜、納米光學(xué)材料、LED光源、液晶顯示、傳感器器件制備、角度相關(guān)材料分析

技術(shù)參數(shù)：