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干涉測量實驗裝置
- 品牌:天津拓普
- 型號: WSY-2 型
- 產(chǎn)地:天津 津南區(qū)
- 供應(yīng)商報價:面議
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天津市拓普儀器有限公司
更新時間:2024-01-11 08:44:46
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品光學(xué)導(dǎo)軌及光具座(6件)
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詳細(xì)介紹
儀器簡介:
該儀器主要利用導(dǎo)軌、支架及光學(xué)組件、如雙棱鏡分成兩束光,將兩束光相遇產(chǎn)生的明暗相間的干涉條紋用讀數(shù)顯微鏡測出條紋間距,再用二次成像繪測出一大、一小兩個縫像(即虛光源S1、S2)之間的距離代入公式即可。
技術(shù)參數(shù):成套性:
導(dǎo)軌、二維調(diào)整架、干板架、白屏、單面可調(diào)狹縫、低壓鈉燈、雙棱鏡、牛頓環(huán)、透鏡、讀數(shù)顯微鏡、雙縫