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2000V/2000A雙脈沖測(cè)試功率器件動(dòng)態(tài)系統(tǒng)

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2000V/2000A雙脈沖測(cè)試功率器件動(dòng)態(tài)系統(tǒng) 核心參數(shù)
柵極正向電壓 0~30V 柵極負(fù)向電壓 -20~0V(正負(fù)壓差不超過30V)
柵極最大電流 10A 漏極/集電極最大電壓 2000V
漏極/集電極最大電流 2000A(DPT),短路電流12kA

產(chǎn)品特點(diǎn)

是一款專用于MOSFET、IGBT、SiCMOS等器件的動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試,能夠安全便捷的測(cè)試功率器件的開關(guān)延時(shí)和損耗,評(píng)估器件的安全工作區(qū),對(duì)器件和驅(qū)動(dòng)電路的短路保護(hù)特性進(jìn)行驗(yàn)證,測(cè)量功率組件的雜散電感。

詳細(xì)介紹

系統(tǒng)特點(diǎn)
高電壓達(dá)2000V(蕞大擴(kuò)展至8kV)
大電流達(dá)2000A(可擴(kuò)展至6000A)
低寄生電感設(shè)計(jì):<20nH寄生電感
安全防護(hù)機(jī)制:集成防爆、過流/過壓保護(hù)
全功能測(cè)試覆蓋:支持DPT、RBSOA、      SCSOA、Qg等參數(shù)
自動(dòng)化與智能化,負(fù)載電感自動(dòng)切換
溫度范圍廣:可選高溫模塊(常溫-200℃)或熱流儀(-40℃-200℃)
兼容多種封裝,可根據(jù)測(cè)試需求定制夾具
系統(tǒng)組成.png
測(cè)試參數(shù)
開通特性:開通延時(shí)時(shí)間td(on)、開通上升時(shí)間tr、開通時(shí)間ton、開通能量損耗E(on)、開通電壓斜率dv/dt、開通電流斜率di/dt、Id vs.t、Vds vs.t、Vgs  vs.t、Ig   vs.t
關(guān)斷特性:關(guān)斷延時(shí)時(shí)間td(off)、關(guān)斷上升時(shí)間tf、關(guān)斷時(shí)間toff、關(guān)斷能量損耗E(off)、關(guān)斷電壓斜率dv/dt、  關(guān)斷電流斜率di/dt、Id vs. t、Vds vs. t、Vgs  vs. t、Ig   vs.t
反向恢復(fù)特性:反向恢復(fù)時(shí)間trr、反向恢復(fù)電荷Qrr、反向恢復(fù)能量Err、蕞大反向恢復(fù)電流Irrm、反向恢復(fù)電壓斜率dv/dt、反向恢復(fù)電流斜率di/dt、反向恢復(fù)電流特性Id  vs.t
短路特性:短路時(shí)間Tsc、短路飽和電流Iscsat、Vce尖峰 VCEmax、短路能量Esc、短路功率Psc    
柵極電荷:總柵極電荷Qg、閾值柵極電荷Qgs(th)、柵源電荷Qgs、柵漏電荷Qgd、柵極申荷曲線Vgs   vs.t
反偏安全工作區(qū):關(guān)斷電壓尖峰VCE—peak、關(guān)斷電流尖峰lc、Vce vs.t、lc vs.t

測(cè)試夾具
針對(duì)市面上不同封裝類型的功率半導(dǎo)體,如IGBT、SiC、MOS等產(chǎn)品,普賽斯提供整套測(cè)試夾具解決方案,可用于T0單管,半橋模組等產(chǎn)品的測(cè)試

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