儀器簡介：

新一代Zetasizer Nano ZS可以為膠體和聚合物化學(xué)專家提供綜合測量三項最重要參數(shù)的能力，即粒度、zeta 電位和分子量。這些系統(tǒng)中內(nèi)置了新技術(shù)，提供無比的靈敏性和多功能性。

粒度 - NIBS 技術(shù)可以對粒徑范圍0.3 納米至 10 微米的顆粒和分子進行測量。

Zeta 電位 - M3-PALS 技術(shù)能夠?qū)λ稚⒑头撬稚Ⅲw系中的 zeta 電位進行精確的測量。

分子量 - 雪崩光電二極管檢測器和光纖檢測光學(xué)裝置提供測量分子量所需的靈敏度和穩(wěn)定性。

Zetasizer Nano ZS中,可根據(jù)實際應(yīng)用選擇Nano ZS, Nano ZS90, Nano S, Nano Z,Nano S90等不同型號
Zetasizer Nano ZS 是 Malvern Zetasizer Nano ZS中的佼佼者，能夠測量所有三項參數(shù)，而且性能絲毫不減。
Nano ZS、Z 及 ZS90 都可以使用獨特的一次性 zeta 電位樣品池，避免樣品之間的交叉污染。

所有系統(tǒng)均可與 MPT-2 自動滴定儀連接使用，實現(xiàn)趨勢測量和樣品制備的自動化。

技術(shù)參數(shù)：

粒徑測量
-最大粒徑范圍: 0.3 nm - 10 μm *
-濃度范圍: 0.1ppm 40% w/v *
-檢測角度:175 和 12.8
-最小樣品量: 12 μl

Zeta電位測量
-Zeta電位范圍: 無實際限制
-電泳遷移率: 0 無實際上限
-最大樣品電導(dǎo)率: 200mS/cm
-最大樣品濃度: 40% w/v
-最小樣品量: 150 μl
-粒徑范圍: 3.8nm - 100 μm *

分子量測量
分子量范圍 342 - 2 ×10⁷ Da * (動態(tài)光散射)
980 - 2 ×10⁷ Da * (靜態(tài)光散射)
最小樣品量 12 μl，* 取決于樣品

主要特點：
新一代Zetasizer Nano ZS納米粒度和Zeta電位及分子量分析儀
持續(xù)革新與優(yōu)化 樹立納米分析新標桿

-融合多項ZL技術(shù) 挑戰(zhàn)顆粒表征極限
-粒度范圍極寬:0.3--10 μm
-濃度范圍廣: 0.1ppm40%(w/v)
-測量分子量
-高分辨率高靈敏度Zeta電位測量
-zuixinZLzeta電位樣品池具有所需樣品量低至150 μl 和檢測高濃度樣品最高至40%(依賴于樣品)的極限能力

多項ZL技術(shù)
-馬爾文ZLNIBS非侵入背側(cè)光散射技術(shù)使儀器具有最高靈敏性
-馬爾文ZL的新一代PALS+M3技術(shù),將zuiyou的硬件與軟件技術(shù)相結(jié)合,有效檢測散射光的相位變化
-馬爾文ZL的毛細管樣品池電極組件,真正避免交叉污染

強大多功能系統(tǒng)
-世界公認zuiyou的APD檢測器,靈敏度無出其右
-特制高性能He-Ne激光器,提供更高的穩(wěn)定性
-標準配置研究級高速數(shù)字相關(guān)器
-175度和12.8度相結(jié)合的雙角度測量模式,洞悉體系中的締合物含量