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顆粒物排放連續(xù)監(jiān)測系統(tǒng)(PM CEMS)

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詳細(xì)介紹


產(chǎn)品簡介

賽默飛顆粒物排放連續(xù)監(jiān)測系統(tǒng)的特點是采用兩種測量方式,測量結(jié)果是可溯源至NIST標(biāo)準(zhǔn)的真正質(zhì)量濃度,可以滿足日益嚴(yán)格的精度要求。

主要特點

  • 連續(xù)測量可過濾顆粒物

  • 不會受顆粒物特性變化的影響

  • 設(shè)計滿足美國EPA PS-11的要求

  • TEOM方法進行內(nèi)部質(zhì)量參比校正


先進的技術(shù)

我們的顆粒物CEMS綜合了光散射法和質(zhì)量微天平方法的優(yōu)點,可以準(zhǔn)確測量煙氣中顆粒物濃度。系統(tǒng)不受顆粒物大小、化學(xué)組成變化的影響,系統(tǒng)通過重量參比法進行線性修正。系統(tǒng)設(shè)計滿足美國 EPA性能規(guī)范PS-11、質(zhì)量保證程序Procedure 2的要求,并通過了審核程序Method 5或17的驗證。


受電廠燃料、工藝過程、控制參數(shù)的影響,煙氣顆粒物的變化性和動態(tài)特性變化非常強。顆粒物CEMS采用光散射、錐形微量振蕩天平(TEOM)雙測量原理,可以辨別質(zhì)量濃度變化還是顆粒物其它特性變化。錐形微量振蕩天平(TEOM)是質(zhì)量傳感器,對連續(xù)測量的光散射設(shè)備進行內(nèi)部參比校正。


顆粒物CEMS采用稀釋抽取法,允許更低的傳輸溫度,并可以減少維護量,提高系統(tǒng)使用壽命和運行時間。按一定比例稀釋的樣品被抽取進入光散射平臺,這一部分進行系統(tǒng)連續(xù)測量。在一個可選擇的時間表中,樣品通過光散射平臺后,進入TEOM慣性微量天平平臺對光散射響應(yīng)換算為真正的質(zhì)量濃度。


顆粒物CEMS由稀釋抽取探頭,Model 3880i探頭控制器,氣動電氣管束組成。煙道流速可以通過模擬量、數(shù)字化通訊方式輸入進入系統(tǒng),儀表氣清潔系統(tǒng)和機箱空調(diào)都是可選項。


技術(shù)參數(shù)


量程0–250 mg/m3(可適用于0-5mg/m3低濃度排放監(jiān)測)
準(zhǔn)確度

± 20%未進行污染源校正;± 10%污染源校正后

檢測限0.25 mg/m3 @ 15分鐘整合時間
響應(yīng)時間(T90)15 分鐘
電源200–240 VAC @ 50/60 Hz, 30A
儀表氣80 slpm @ 0.55~0.7MPa(75–100 psi)
探頭尺寸

1117.85mm (寬)+ 914/1524mm護套 X 474.73mm (高) X 07.09mm (深)

探頭重量59 Kg 
探頭控制器尺寸

482.6mm(19”)(寬) X 18.95mm(8.62”)(高) X 655.32mm(25.8”)(深)

探頭控制器重量25 Kg. 
最高煙氣溫度200℃(更高溫度需向工廠確認(rèn))
環(huán)境溫度

探頭控制器操作溫度4–50 ℃; 無凝結(jié)水

模擬量輸出

6 路電壓 0–100 mV, 1, 5, 10 V;6 路電流 0-20 mA, 4-20 mA

開關(guān)量輸出1 路電源故障, 10 路繼電器




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