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X射線能譜儀

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詳細介紹

牛津儀器獨特的外部PentaFET技術和圓型SDD晶體的結合,第一款適合定量分析的分析型電制冷能譜.分辨率高,體積小巧,性能穩(wěn)定,分析速度是液氮制冷能譜的10倍。且無需風扇及循環(huán)水制冷,無需添加液氮。
超大面積能譜探頭有效面積為20mm2,同等條件下,信號的強度為傳統(tǒng)的10mm2的2倍,進一步顯示了SDD的速度優(yōu)勢。同等的計數(shù)率時,需要的電鏡束流為10mm2的1/2,大大提高了能譜的空間分辨率,對于微區(qū)的分析非常有利
技術參數(shù)
窗口,20mm2大面積活區(qū);
在MnKα處的分辨率:優(yōu)于129eV (計數(shù)率1,000-100,000cps);
穩(wěn)定性: 1,000cps100,000cps
譜峰漂移<1eV,分辨率變化<1eV,48小時內譜峰漂移<1eV (Mn Ka)
峰背比20,000: 1 (Fe 55, Mn Ka)
分析元素范圍:Be4-Pu94
圓形SDD晶體
高性能,低噪聲,獨立封裝FET場效應管
兩級電子制冷
不用時無需通電,即熱循環(huán)設計
ZL的探測器自動優(yōu)化功能,確保輕元素性能長期優(yōu)良;
ZL的X-sight電荷復位技術;

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