QUANTAX FlatQUAD 是基于 XFlash? FlatQUAD 的 EDS 分析系統(tǒng)。這種環(huán)形四通道硅漂移探測器實驗時位于SEM極靴和樣品之間，在EDS測試中實現(xiàn)Max固體角。QUANTAX FlatQUAD 與 ESPRIT 分析軟件套件相結(jié)合，即使是對于最困難的EDS樣品，可以提供無與倫比的面分析性能。

• 僅使用中等電流就可以進行極快的面分析表征

• 可以在極低電流(<10pA)下對束流敏感材料進行分析，例如生物或半導(dǎo)體樣品

• 對具有粗糙表面的樣品進行表征，有效避免陰影效應(yīng)

• 低kV 和高放大倍率下的納米顆粒和納米結(jié)構(gòu)分析

• SEM 中測量薄樣品（如 TEM 薄片）和其他 X 射線產(chǎn)量低的樣品的理想化選擇