MMS-1A-RS三維磁場成像測繪系統(tǒng)

昊量光電全新推出的MMS-1A-RS三維磁場成像測繪系統(tǒng)。 MMS-1A-RS三維磁場成像測繪系統(tǒng)是設(shè)計用于精確測量呈現(xiàn)軸向和徑向多極磁化的永磁或電磁體設(shè)備（如轉(zhuǎn)子或定子）產(chǎn)生的磁場。

MMS-1A-RS 三維磁場成像測繪系統(tǒng)是高端的全自動磁場測繪系統(tǒng)，允許用戶對永磁體、電磁鐵和電子電路 PCB 周圍的磁場進(jìn)行快速、高分辨率的測繪。由于完全集成的真正三軸霍爾探頭的獨特功能，幾乎可以在同一點同時測量磁場的所有三個分量。溫度測量功能允許用戶在監(jiān)控磁場的同時獲取當(dāng)前溫度值。

運動控制單元可同時控制四個軸（X、Y、Z 線性模塊和旋轉(zhuǎn)平臺）。三維磁場成像測繪系統(tǒng)能夠以蕞高精度和重復(fù)性實現(xiàn)快速測頭定位。雷尼紹 TP20 觸發(fā)式傳感器可防止測頭損壞，并允許通過觸摸進(jìn)行測頭定位。測繪系統(tǒng)由基于 MS Windows 平臺和 LabVIEW 的直觀易用的軟件控制。掃描條件和測量數(shù)據(jù)可視化完全可定制?？蛻艨稍诂F(xiàn)場完成重新校準(zhǔn)過程。 高端測繪儀有多種尺寸可供選擇，適用于微型電子零件或重型轉(zhuǎn)子。SENIS 還提供用于在線檢測和自動轉(zhuǎn)子控制的測繪儀版本。

為什么你要選擇MMS-1A-RS三維磁場成像測繪系統(tǒng)？

• 同時測量磁場的所有三個分量（Bx、By、Bz）

• 計算角度誤差（例如，用于對傾斜轉(zhuǎn)子進(jìn)行角度控制）。

• 多極磁體分析 - 極寬、極面積、零點交叉分析、磁極數(shù)量、磁場峰值幅度（蕞大值和蕞小值）等。

• 交流磁場繪圖，正弦形狀控制，總諧波失真，F(xiàn)FT分析。

• 在生產(chǎn)中的質(zhì)量評估工具，進(jìn)行良好/不良分析，適用于單極和多極永磁體、轉(zhuǎn)子、編碼器、揚聲器、復(fù)印機(jī)輥、磁帶、智能手機(jī)、平板電腦、印刷電路板等組件。

• 檢測永磁體中的裂縫。

• 支持磁體系統(tǒng)的開發(fā)。

• 應(yīng)用于實驗室和生產(chǎn)線等場合。

MMS-1A-RS三維磁場成像測繪系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)

• 掃描范圍(X x Y x Z):

         -標(biāo)準(zhǔn)：135mm x 135mm x 135mm

         -選項：500mm x 500mm x 135mm

•  掃描速度：可調(diào)整，高達(dá) 100mm/s；

• 具有零點探測功能的線性編碼器為 X,Y,Z 的線性模塊提供馬達(dá)控制反饋；

• 線性模塊的掃描空間分辨率：低至 1μm；

• 點對點掃描和連續(xù)掃描；

• 通過觸覺傳感器，實現(xiàn)磁定位；

• 具有編碼器(0.022o 分辨率)和零點探測功能的旋轉(zhuǎn)平臺；

• 作為精密磁鐵夾具的多爪滾動卡盤；

• 三維完全集成的 cmos 霍爾探頭，空間分辨率高(By: 0.02 x 0.005 x 0.02mm3; Bx &Bz: 0.14x 0.01 x 0.14 mm3)；角精度高；

• 選項：滑動探頭用于接觸式磁鐵測量；

• 高達(dá) 3 個可選擇的磁場測量范圍(量程檔)；量程0.1T,0.5T,2T或50mT,0.2T,1T；

•  磁場測量精度：優(yōu)于 0.1%；

• 探頭敏感區(qū)域的用戶校準(zhǔn)；

•  DC 和AC 測量范圍：DC- 2.5KHz (-3dB 處)；

• 選項：對于三維探頭，可測頻率范圍高達(dá) 25KHz；對于單維探頭，可測頻率范圍高達(dá)75KHz；

• 用于安全操作的保護(hù)柜；

•  在 MS Windows 平臺運行的上位機(jī)軟件

• 磁場的彩色編碼 2D 和3D 等距標(biāo)示

MMS-1A-RS三維磁場成像測繪系統(tǒng)軟件功能：

三維磁場成像測繪系統(tǒng)的測繪軟件可對測量到的磁場數(shù)據(jù)進(jìn)行實時和在線分析及可視化；它可生成磁場的 3D 地圖、計算磁極數(shù)、計算多極磁鐵和轉(zhuǎn)子的磁極寬度。它能檢測零交叉，測量磁角度、角度誤差和磁場均勻性。它還能做出 "好"/"壞 "判定，檢測磁體和非磁化坯料中的裂紋等。