CSI是一家法國科學(xué)設(shè)備制造商，擁有專業(yè)的AFM設(shè)計概念，以及為現(xiàn)有的AFM提供設(shè)計選項。它避免了激光對準(zhǔn)需要預(yù)先定位針尖的系統(tǒng)，針尖/樣品的頂部和側(cè)視圖，結(jié)合垂直的馬達(dá)控制系統(tǒng)，使預(yù)先趨近更加容易，通過光學(xué)視窗和X-Y樣品平移臺相結(jié)合使得樣品定位簡單，為研究型實(shí)驗(yàn)室或工廠提供解決方案。

    基本技術(shù)特點(diǎn)

1）控制器規(guī)格

   XY掃描范圍  100 μm（±10%），Z軸掃描范圍9μm （±10%），XY驅(qū)動分辨率24位控制-0.06?m

   數(shù)據(jù)采樣點(diǎn)高達(dá)4096

2）預(yù)先配置的模式

   不需要增加額外的模塊就能實(shí)現(xiàn)所有需要的測量，通過簡單地選擇AFM模式，軟件驅(qū)動和連接到相應(yīng)的電子設(shè)備不會產(chǎn)生錯誤。通過一個簡單的點(diǎn)擊，你可以在所有的AFM模式之間切，

3）柔性材料電學(xué)測試ResiScope

   柔性ResiScope原理是基于間歇接觸，樣品的摩擦禮盒針尖的恒定力提供定量的測量，不損壞精細(xì)樣品的表面。

4）高清KFM模式

   除了標(biāo)準(zhǔn)的KFM模式， Nano-Observer還能提供一種高清KFM模式，較為大提高了分辨率，并提高了表面電位的測量靈敏度，

5）Nano-Observer環(huán)境控制

   設(shè)計提供了環(huán)境控制模塊（氣體，濕度，溫度），為提高電器測量性能或者保護(hù)樣品免受氧化     

    應(yīng)用

普通樣品/生物樣品表面形貌

多模塊配置測量（PFM/KFM/EAFM/CAFM等）

通過ResiScopeTM模式掃描（超過10個數(shù)量級的電流，電阻）。