TDR阻抗測試儀，差分阻抗測試儀，差分延遲阻抗測試儀，高頻差分阻抗測試儀，差分阻抗測試儀生產(chǎn)廠就找正業(yè)科技。

用途：

特性差分阻抗測試系統(tǒng)是采用時(shí)域反射技術(shù)設(shè)計(jì)的，能夠批量化、自動(dòng)化、快速、準(zhǔn)確測試PCB跡線的特性阻抗，并提供測試波形分析、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析、自動(dòng)記錄測試數(shù)據(jù)、自動(dòng)出具檢測報(bào)告并打印等功能。適用于電路板制造廠商的研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)及品管單位。為高頻線路板特性阻抗測試提供了一套快速、準(zhǔn)確、標(biāo)準(zhǔn)和經(jīng)濟(jì)的解決方案。

特性阻抗測試儀技術(shù)參數(shù)

項(xiàng)目 規(guī)格

型號(hào) TDR-ZK2130

控制阻抗測試范圍 20～150Ω

測量精度 50Ω±1%

測量長度 0.05～2m

水平顯示分辨率 0.2mm

垂直顯示分辨率 0.05Ω

測試方法 時(shí)域反射法

帶寬 3GHZ

特點(diǎn)：

1、批量化、自動(dòng)化測試，操作簡單、測試快捷，適合PCB工廠快速測試。

2、Windows操作環(huán)境，友好的人機(jī)界面，自動(dòng)出具測試結(jié)果。

3、提供單端和差分阻抗測試。

4、快速定制測試任務(wù)及批量化、自動(dòng)化測試功能。

5、集成測試文件編輯器，快速設(shè)置測試參數(shù)。

6、自動(dòng)記錄測試數(shù)據(jù)，生成報(bào)表并保存在磁盤上。

7、顯示測試波形、統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)分析及測試結(jié)果。

8、打印測試報(bào)表、波形及測試結(jié)果。

9、符合IPC-TM-650和IPC2141標(biāo)準(zhǔn)。

常見問題解決方法

1校準(zhǔn)過程中出現(xiàn)數(shù)值誤差偏高。

產(chǎn)生原因：誤操作導(dǎo)致。

解決方法：關(guān)機(jī)1個(gè)小時(shí)，重新開啟進(jìn)行校準(zhǔn)。

2單項(xiàng)刪除出現(xiàn)軟件報(bào)錯(cuò)。

產(chǎn)生原因：操作過快導(dǎo)致。

解決方法：需要重新開啟軟件。

3連續(xù)48小時(shí)開機(jī)，日志沒有及時(shí)更新。

產(chǎn)生原因：機(jī)器在長時(shí)間（超過12個(gè)小時(shí)不操作）會(huì)有自保護(hù)功能。

解決方法：重新開啟軟件。

4水平分辨率顯示部分網(wǎng)格消失。

產(chǎn)生原因：水平分辨率調(diào)節(jié)過小導(dǎo)致。

解決方法：水平分辨率調(diào)節(jié)到用戶需要的即可。