產品介紹：

Innova-IRIS 結合了業(yè)界領先性能的AFM和布魯克專 利的針尖增強拉曼光譜（TERS）探頭，能提供一整套完備、有保障的TERS解決方案。它與 Renishaw inVia 顯微拉曼系統完 美融合，組成一個高效且完全集成的測量平臺，同時保留了每個獨立組件的功能， 可用于微、納米尺度各類性質成像，可將 AFM 的應用擴展到納米光譜及納米化學分析領域。

聯合

原子力顯微鏡和拉曼顯微鏡

提供高性能的TERS和完整的SPM功能。

專屬

TERS 探頭

零光譜干擾，實現高空間分辨率成像和高性能TERS功能。

優(yōu)化

硬件和軟件

降低傳統TERS操作的復雜性。

特征

專為TERS設計

文獻研究表明光路離軸反射結構是充分考慮探針尖 端陰影和極化效應條件下，實現最 大光捕獲的最 佳解決方案。Innova-IRIS 采用新型光學架構，激發(fā)光從探頭的正面進入探針-樣品交匯點，提供了理想的無障礙物光學路徑。

布魯克創(chuàng)新的樣品掃描 AFM 結合Renishaw InVia 顯微拉曼系統，通過聯合研發(fā)設計，在掃描過程中集成了獨特的光學"熱點"跟蹤方式，在拉曼較長信號積分時間內，可以保持探針的完整性和精確定位，能滿足TERS成像的嚴苛要求。

關聯的互補數據

使用 Innova-IRIS 和 inVia 拉曼系統獲取的石墨烯AFM 形貌(左)和拉曼化學成像(右圖)。

Innova-IRIS 與 Renishaw InVia 的集成完全保留了 AFM 和拉曼顯微鏡的全部功能。單獨使用時，可以采用相對各自獨立的實時控制和數據分析軟件。通過系統集成，可實現互補的納米級形貌、熱、電學和力學信息測量的整合。

應用

最 優(yōu)的TERS應用

不透明樣品TERS系統的光學配置示意圖。

Innova-IRIS優(yōu)化的TERS光路方案。

透明樣品TERS系統的光學配置示意圖。

TERS 操作中的同步光學CCD (AFM和拉曼)。

CVD生長石墨烯的針尖增強拉曼光譜(TERS)，顯示了在 10 nm尺度G 和 2D band 強度的變化。圖片由Renishaw公司提供。

Au基底上孔雀石綠的TERS光譜， Innova - IRIS與Renishaw inVia聯合平臺獲得。

使用 Innova-IRIS TERS探針獲取的Nile Blue 薄膜的TERS光譜。

使用Catalyst-IRIS獲取的Cresyl Blue TERS光譜，TERS增強因子約 99。 激發(fā)波長 532nm，能量 64 μW。